隨著(zhù)LED應用環(huán)境的多元復雜化，LED下游商對上游晶粒品質(zhì)的要求日趨嚴苛，如LED耐靜電測試(Electrostatic Discharge，ESD)的電壓值就從原本4kV要求，逐漸提高到8kV，以容忍戶(hù)外的惡劣環(huán)境。所以高壓LED耐靜電測試為目前LED晶粒點(diǎn)測機中，急待開(kāi)發(fā)的關(guān)鍵模組。